Dpicts pro高分辨率变温少子寿命测试仪
用于生产和研究实验室应用的MDpicts pro（高分辨率变温少子寿命测试仪系统）。全自动设备，以非接触、无破坏方式绘制材料的电输运特性。一般来说，MDpicts pro系统能够适用于各种不同材料和制备阶段的测量，范围从硅原料、裸晶圆到不同的制备阶段，再到HgCdTe、CZT、InSb、HgCdSe、CdTe、GaAs、InP等化合物半导体，可以研究电阻率高于0.3 Ω cm的单晶硅和多晶硅。重点是缺陷再发射、少数载流子寿命以及光电导率的温度相关测量。研究污染物和电活性晶体缺陷。
MDpicts pro高分辨率变温少子寿命测试仪材料：
MDpicts pro 能够对几乎所有半导体进行电学表征
碲镉汞｜碳化硅 | 化合物半导体 | 氧化物 | 宽带隙材料 | 钙钛矿| 外延层
[ HgCdTe | SiC | InP | ZnS | CdTe | GaAs | GaN | Ge ] and more
重点优势：
1）从窄禁带材料到宽禁带材料的全覆盖测试
2）实现材料缺陷的根本原因分析：无损、灵活且精确
3）空间分辨率高
4）同时具备瞬态μPCD和稳态MDP测量
5）可定制激光与光学集成方案，适配各类材料需求
6）原位新型低温恒温测试系统，
7）支持4英寸样品测试