国创科学仪器（苏州）有限公司是一家专注于X射线科学仪器研发与产业化应用的科技型企业，由长三角国家技术创新中心与长三角先进材料研究院联合创立。公司团队拥有近二十年同步辐射研究经验，完成十余项国家及省部级项目。公司定位是为化学、物理、材料等领域提供具有竞争力、安全可靠的仪器设备、解决方案及服务。
一、X射线精细结构分析谱仪（XAFS）
X射线精细结构分析谱仪（XAFS）是一种用于研究物质局域几何结构和电子结构的先进分析仪器。
工作原理：通过测量X射线吸收系数随入射光子能量的变化，解析物质中特定元素周围原子的近邻结构信息，包括配位原子的种类、键长、配位数等关键参数。当X射线照射样品时，特定能量的X射线会被特定元素的内层电子吸收，产生吸收边现象；在吸收边高能侧30-1000 eV范围内，X射线吸收系数会出现振荡，形成精细结构。
技术优势：
不依赖于晶体结构，适用于研究非晶态、液态甚至气体等多种状态的物质
能够对不同元素的原子分别测量，不受其他元素干扰
可分析浓度极低的样品（如百万分之几的元素）
样品制备简单，数据收集快速
同时提供元素的价态、配位环境和电子结构等多维度信息
应用领域：已广泛应用于材料科学、能源、环境、生物等多学科研究。在催化材料研究中可揭示催化剂活性中心的结构特征；在能源材料开发中可追踪电池充放电过程中活性物质的结构变化；在环境科学中可分析污染物的化学形态和迁移转化机制；在生物大分子研究中可解析金属蛋白中金属离子的配位环境。
二、台式XAFS（SuperXAFS系列）
国创科仪研发团队基于近20年大科学装置X射线谱学研究经验，推出了台式X射线吸收谱仪SuperXAFS系列产品。该系列凭借高质量的X射线、出色的能量分辨率以及超精密的联动扫描系统，可为用户提供媲美同步辐射XAFS的实验数据。
台式化高性能X射线装备以其灵活的时空自由度，弥补了同步辐射大科学装置在快速响应和特殊样品检测方面的限制。该系列设备能够实现从中能波段到硬线波段的宽能谱覆盖，弥补了国内外在小型化中能波段吸收谱仪的空白。
SuperXAFS系列包含以下五款主要产品：
1. 宽能谱X射线吸收谱仪（SuperXAFS-T2000）
能量范围：2-20 keV
能量分辨率：0.4-0.9 eV@2-5 keV
能量重复性：≤30 meV@24h
样品处光通量：≥1×10⁶ photons/s@7-9 keV
特点：适用性强，满足全部常规样品测试的同时，亦可满足特殊样品测试，如磷、钾、锕系、有毒、有放射性样品等；内置不同元素参数可快速切换测量，提供标样数据库简化分析流程
2. 多功能X射线吸收谱仪（SuperXAFS-M9000）
能量范围：4.5-20 keV
能量分辨率：0.5-1.5 eV@7-9 keV
能量重复性：≤30 meV@24h
工作模式：支持近边快扫功能；可选透射/荧光模式吸收谱、发射谱
特点：支持原位场景定制，提供吸收谱专业数据解析指导
3. X射线发射谱仪（SuperXAFS-E6000）
能量范围：5-18 keV
能量分辨率：≤2.0 eV@7-9 keV
能量重复性：≤30 meV@24h
X射线源：配置功率≥100W微焦斑X射线源（2个靶材Pd/W），电压20-40 kV
聚焦光斑：≤100 μm
4. 快扫X射线吸收谱仪（SuperXAFS-V8000）
能量范围：5-12 keV
能量分辨率：1-3 eV@7-9 keV
特点：搭载快速扫描技术，可实现毫秒级时间分辨率的动态谱图采集，突破了传统设备依赖同步辐射光源的限制
5. 通用型X射线吸收谱仪（SuperXAFS-H3000）
能量范围：4.5-20 keV
能量分辨率：0.5-1.5 eV@7-9 keV
能量重复性：≤30 meV@24h
工作模式：支持近边快扫功能；可选透射/荧光模式吸收谱
三、X射线吸收光谱技术
X射线吸收光谱（XAFS）技术将X射线光谱分为两个关键探测区域：
XANES（X射线吸收近边结构） ：聚焦吸收边前后50-100 eV区间，可反映元素氧化态、电子结构及配位对称性
EXAFS（扩展X射线吸收精细结构） ：依托高能区的吸收振荡信号，无需依赖晶体结构即可实现非晶、液态材料的原子级分析
通用型X射线吸收谱仪可提供原子尺度的局域结构及电子态信息，广泛应用于材料科学、环境科学、生命科学、能源化学等多个领域：
材料科学：揭示催化剂活性位点的局部结构及反应机理，实时监测电池充放电过程中过渡金属的配位环境演变
环境科学：精准识别土壤、水体中重金属的化学形态、价态与迁移性
生命科学：表征金属蛋白中关键金属离子的配位环境
能源科学：研究太阳能电池、燃料电池等新型能源材料的电子结构及界面特性
联系方式：400-166-1915
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